пїЅ пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ пїЅ
пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ пїЅпїЅ пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ
пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ пїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅпїЅ пїЅ07/2007
РЕФЕРАТЫ
УДК 536.8:621.384
АНАЛИЗ ЧАСТНЫХ ИНВАРИАНТНЫХ ПРЕОБРАЗОВАНИЙ В ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМАХ КОНТРОЛЯ ПРОСТРАНСТВЕННОГО ПОЛОЖЕНИЯ / И. А. Коняхин, А. Н. Тимофеев, Э. Д. Панков, Син Сянмин // Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 7. С. 5—9.
Рассматриваются инвариантные преобразования в оптико-электронных автоколлимационных системах измерения пространственного положения объектов. Целью работы является разработка методики, использующей понятия полного и частного инвариантов и позволяющей получить соотношения между параметрами контрольных элементов, обладающих требуемыми свойствами.
Приведена методика синтеза контрольных элементов для измерений двух коллимационных углов, использующая критерий частной инвариантности, показывающая, что инвариантность по отношению к неизмеряемому углу скручивания обеспечивается определенной ориентацией основного неизменного направления контрольного элемента и выбором последовательности поворотов углов при задании матрицы преобразования координат; инвариантность измерения одного коллимационного угла по отношению к другому реализуется при измерении составляющих орта отраженного пучка в дополнительной системе координат, повернутой на установленный угол.
В качестве примера на основе предложенной методики синтезированы два контрольных элемента, использование которых позволяет увеличить рабочую дистанцию автоколлимационных измерений. Ил. 3, табл. 1, библиогр. 5.
УДК 621.384.32
ОБНАРУЖЕНИЕ ОБЪЕКТОВ СЛОЖНОЙ КОНФИГУРАЦИИ В УСЛОВИЯХ ИНЕРЦИОННОГО ПРИЕМА / Е. Г. Лебедько, Нгуен Ву Тунг // Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 7. С. 10—13.
Путем замены реальной системной импульсной характеристики облучаемой поверхности объектов сложной конфигурации гауссовой функцией с эквивалентной длительностью анализируются энергетические потери, обусловленные временной протяженностью облучаемой поверхности и инерционностью фотоприемного контура (входной цепи) с учетом шумов усилителя. Рассматривается эффективность временного преобразования импульса излучения заданной энергии в этих условиях на обнаружительную способность оптического локатора.
Ил. 4, библиогр. 2.
УДК 536.42; 539.213.27
Нелинейное просветление ситалла излучением YAG:Nd-лазера / В. П. Вейко, Е. А. Шахно, Е. Б. Яковлев, Б. Ю. Новиков // Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 7. С. 14—19.
Стеклокерамические материалы могут существовать в одной из двух фаз: поликристаллической или аморфной. Процесс лазерно-индуцированной фазо-структурной модификации ситалла СТ-50-1 является основой перспективных технологий создания оптических и механических микроустройств. Традиционное использование излучения СО2-лазера накладывает некоторые ограничения на размер формируемых областей просветления. При использовании излучения YAG:Nd-лазера становится возможной послойная аморфизация материала в глубину. Ил. 4, библиогр. 7.
УДК 535.211
ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ АПЕРТУРЫ СБОМ-ЗОНДА ПО РАСПРЕДЕЛЕНИЮ ОСВЕЩЕННОСТИ В ДАЛЬНЕЙ ЗОНЕ / В. П. Вейко, В. К. Кирилловский, Ле Зуй Туан, Зыонг Ван Зунг // Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 7. С. 19—23.
Разработан пакет программ для интерпретации данных изофотометрии и определения параметров поля в зоне апертуры ближнепольного оптического зонда, что позволяет судить о размерах его апертуры. ПЗС-матрица с помощью программного обеспечения, созданного на основе принципов изофотометрии, может регистрировать большой динамический диапазон интенсивностей с высоким разрешением. Ил. 5, библиогр. 11.
УДК 535.51:681.4.023
ИССЛЕДОВАНИЕ ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ В ПРОЦЕССЕ ВЫЩЕЛАЧИВАНИЯ СИЛИКАТНЫХ СТЕКОЛ /П. Л. Гарин, А. А. Новиков, В. Т. Прокопенко, И. А. Храмцовский // Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 7. С. 23—30.
Методом эллипсометрии исследованы основные закономерности изменения поляризационно-оптических характеристик поверхностных слоев в процессе стационарного и нестационарного выщелачивания силикатных стекол. Установлено, что на ранней стадии химической обработки слабокислым раствором полированного синцовосиликатного стекла образуется неоднородный слой с показателем преломления выше объемного значения. На завершающей стадии образуется слой с показателем преломления, близким к показателю преломления кремнекислородной матрицы силикатного стекла. Описаны математические модели ионного переноса в поверхностных слоях, образующихся при жидкостном химическом травлении и электронно-лучевой обработке силикатных стекол. На основе сопоставлений результатов, полученных методами эллипсометрии и рефлексометрии, предложен способ определения химической устойчивости стекол. Ил. 4, библиогр. 10.
УДК 681.787
СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ МЕТОДОВ ОПТИЧЕСКОЙ КОГЕРЕНТНОЙ ТОМОГРАФИИ / В. Н. Васильев, И. П. Гуров // Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 7. С. 30—40.
Рассмотрены основные методы оптической когерентной томографии (ОКТ) и особенности построения систем ОКТ на основе использования интерферометров с источниками излучения малой когерентности. Проведено сравнение характеристик корреляционного и спектрального методов ОКТ, а также техники ОКТ на основе волоконной оптики и широкопольных оптических систем. Представлены соотношения, определяющие разрешающую способность и быстродействие при восстановлении трехмерных изображений внутренней структуры случайно-неоднородных сред. Ил. 5, библиогр. 18.
УДК 621.373.8
МОДЕЛИРОВАНИЕ ДИНАМИКИ ГЕНЕРАЦИИ В ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ ЛАЗЕРАХ ДИАПАЗОНА 3 МКМ / В. В. Назаров, С. В. Овечкин, С. Е. Парахуда, А. С. Смирнов, В. Ю. Храмов // Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 7. С. 41—46.
Описана математическая модель эрбиевых лазеров, учитывающая апконверсионные процессы переноса энергии возбуждения и предназначенная для моделирования процесса лазерной генерации в кристаллических средах, активированных ионами эрбия. Модель адаптирована для селективной и неселективной накачки кристаллов. Селективная накачка может осуществляться в разные энергетические состояния иона эрбия. Ил. 5, библиогр. 11.
УДК 535.31
О принципах амплитудной и амплитудно-фазовой пространственной фильтрации / А. А. Зинчик, Я. Б. Музыченко, С. К. Стафеев// Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 7. С. 46—52.
Рассмотрены принципы амплитудной и амплитудно-фазовой пространственной фильтрации, применяющиеся для коррекции изображений. Предлагается использовать фрактальные маски для улучшения визуализации фазовых неоднородностей прозрачных объектов. В этом случае оказывается возможным не только уверенно регистрировать малые градиенты преломления исследуемого объекта, но и автоматически выделять характерные периоды его неоднородностей, поскольку для фрактальной маски спектр обладает фрактальной размерностью, дополнительной к размерности самой маски. Ил. 4, библиогр. 11.
УДК 535.317.2
РАЗРАБОТКА АЛГОРИТМИЧЕСКОГО И ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ДЛЯ АППАРАТУРЫ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИЗОБРАЖЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ / В. К. Кирилловский, Ле Зуй Туан // Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 7. С. 52—57.
Для устранения недостатков традиционных методов прямого определения функции рассеяния точки, основанных на сканировании, разработаны изофотометрические методы экспериментального анализа пятна рассеяния, сформированного при работе оптической системы. Эти методы позволяют регистрировать перепады освещенности в пятне рассеяния в диапазоне до пяти порядков (105), строить кривые распределения освещенности в любом сечении, а также топограмму распределения освещенности в пятне рассеяния, вычислять концентрацию энергии и системы. Ил. 4, табл. 1 библиогр. 4.
УДК 517.946:681.3
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ САПР ДЛЯ МАТЕМАТИЧЕСКОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ПОЛЯ / И. А. Конников// Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 7. С. 57—62.
Обосновывается метод разностной математической модели, предназначенный для вычисления электромагнитного поля в САПР электронных модулей при решении задач внутренней электромагнитной совместимости. Метод позволяет избежать интегрирования в комплексной области и снизить объем вычислений. Предлагаемый подход изложен на примере элементарного вертикального излучателя в слоистой среде. Библиогр. 21.
УДК 33:303.78; 33:330.44
Статистическая оценка научного потенциала Российской Федерации / А. Ю. Федoрова, М. В. Филиппова // Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 7. С. 63—67.
Проведен анализ системы показателей и классификаций экономико-статистического анализа научного потенциала сектора высшего образования Российской Федерации.
Задачи, решение которых призвано обеспечить достижение цели, заключаются в следующем: анализ отечественного и зарубежного опыта оценки научного потенциала высшей школы; описание системы показателей, характеризующих научных потенциал высшей школы РФ, методов их расчета и представления в сопоставлении с показателями зарубежных стран.
Решение поставленных задач осуществлено на принципах системного анализа инструментария статистической оценки научного потенциала.Библиогр. 3.
УДК 681.511.4
Интегрированная система научно-исследовательской деятельности на основе информационной инфраструктуры / С. К. Стафеев, М. В. Сухорукова, Д. Ф. Сулейманов, А. Д. Береснев, И. А. Березовский, О. А. Бельская// Изв. вузов. Приборостроение. 2007. Т. 50, № 7. С. 68—72.
Для того чтобы в образовательной среде активно использовались возможности информационных систем нового поколения, необходимо обеспечить синтез лучших педагогических традиций с возможностями технологических решений в области коммуникации между людьми, в частности, с помощью новых методов организации образовательного пространства. Создаваемая система призвана интегрировать современные решения с новыми подходами к задаче создания образовательной среды.
На технологическом уровне эффективность системы обеспечивается за счет создания постоянного доступа обучаемого к многочисленным сервисам проекта и элементами настоящего интерактивного взаимодействия. Одна из функций системы — обеспечение образовательных учреждений и организаций удобным инструментом для управления учебным процессом. Библиогр. 5.
|